资讯基于EDAC模块嵌入到ARINC 659用来提高总线控制器的容错处理能力2017-11-16

航天应用中，单粒子翻转引发SRAM型FPGA的错误最多，而EDAC设计在纠错模块中有着广泛的应用。将依据扩展海明码设计的[40，32]EDAC模块嵌入到ARINC 659的双口数据DPRAM和指令SRAM中，提高了总线控制器的容错处理能力。 0 引言 集成电路的应用领域在不断深入扩大，航空航天方面要求系统能长期可靠地运行，其运行的环境辐射比地面辐射严重，集成电路很容易受到干扰，导致设备不能正常工作。单粒子翻转是指高能粒子射入集成电路的PN结，会发生PN结电离、电荷积累、能量转移等。存储器件某一位数据会从一个稳态转变为另外一个稳态，是引发航天器故障的主要因数。 为了最大限度地减少单粒子效应对FPGA的影响，通常采用三模冗余的加固结构，尽管三模冗余结构可以将错误暂时隔离，但是在长期工作的情况下冗余单元也可能继续发生错误。近年来国内外