工业和扩展测试DDR SDRAM
Insignis的DDR SDRAM器件(Industrial and Extended Test DDR SDRAM)由于其专有的扩展测试流程,可确保在升高的结温下工作
发布时间:2018-09-13
高速CMOS DDR同步DRAM通过Insignis专有的扩展测试流程进行审查,以减轻早期故障,确保工业用途的优质和长期可靠性。它有一个同步接口(所有信号都记录在时钟信号CK的上升沿)。数据输出发生在CK的两个上升沿,对SDRAM的读写访问是面向突发的; 访问从选定的位置开始,并以编程的顺序继续编程的位置数。访问以银行激活命令的注册开始,然后是读取或写入命令。
该器件提供可编程的读或写突发长度为2,4或8.可以启用自动预充电功能,以提供在突发序列结束时启动的自定时行预充电。刷新功能(自动或自刷新)易于使用。此外,512 Mb DDR SDRAM具有可编程DLL选项。
通过具有可编程模式寄存器和扩展模式寄存器,系统可以选择最合适的模式以最大化其性能。这些器件非常适合需要高存储器带宽的应用,因此该器件特别适用于高性能主存储器和图形应用。
工业和扩展测试DDR SDRAM特性
Insignis专有的扩展测试流程提高了质量,确保在升高的结温下运行
JEDEC标准直接替换部件
AECQ-100可用
提供256 Mb和512 Mb容量
工作温度范围
扩展测试(ET):0°C至+ 70°C
工业(IT):-40°C至+ 85°C(最高可达+ 105°C)
差分时钟CK和/ CK
完全同步操作
内部流水线架构
可编程模式寄存器
单个字节写掩码控制
自动刷新和自我刷新
预充电和主动断电
无铅和无卤包装
双向DQS
DLL启用/禁用EMRS
工业和扩展测试DDR SDRAM应用
产业
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工业PC
医
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