压敏电阻的常见失效模式有哪些？

压敏电阻器（MOV）的常见失效模式主要包括以下几种：

1. 开路失效：当MOV流过超出其承受能力的浪涌电流时，可能导致本体炸裂，表现为开路状态。这种模式通常不会引起燃烧现象。

2. 短路失效：MOV可能因为内部结构的损坏或材料老化而发生短路，这通常与过电流保护方式的弊端有关。短路本身不会引起MOV损坏，但如果保险丝未损坏，这可能表明损坏不是由短路或过流引起的。

3. 性能劣化：表现为漏电流增大，压敏电压显著下降，直至为零。这种劣化可能是由于材料老化或长期承受过电压造成的。

4. 炸裂失效：如果过电压引起的浪涌能量太大，超过了MOV的极限承受能力，MOV可能会发生陶瓷炸裂现象。

5. 穿孔失效：在某些情况下，MOV内部可能发生穿孔，导致失效。

6. 热失效：由于散热不良或环境温度过高，MOV可能会因过热而损坏。

7. 电压击穿：在某些情况下，MOV可能在未达到预定电压时发生击穿，导致短路。

了解这些失效模式有助于在设计和使用过程中采取适当的保护措施，以延长MOV的使用寿命并确保电路的安全运行。